• MRID

MRID

Micro Raman Identify Dual
廠牌:PTT
型號 : MRID

特色:

MRID (Micro Raman Identify Dual Lasers) 已獲得台灣發明專利(I709732)及美國發明專利 (US 11,340,114 B2),此專利設計是內鍵直射式雙雷射光源及雙光柵的光學設計為基礎,由軟體控制不同的波長切換以達到全自動的顯微拉曼切換光源目的,無須任何手動調整,由於設計上已考慮到不同波長的最佳對焦距離,加上光學系統穩定性高無需光學桌,整體設計讓使用者在操作上可以減少許多不必要的困擾,甚至沒有光學背景的使用者也可以輕易上手。

MRID 的光學路為水平交錯設計,因此可以依客戶需求訂製第三支雷射或以上的雷射光源,此時雷射組合為二支固定且直射式,其他雷射模組空間設計為可抽換式的光纖入射方式,方便用者自行更換雷射以及其他應用。


  • 雙波長自動量測


佐信獨立開發並己取得發明專利,雙雷射光源系統使用者只需按一個鍵,系統可以分別量測出不同雷射波長的激發拉曼訊號。以圖下所示,矽晶片在785nm雷射下的表現在520cm-1有其訊號且在NIR範圍也有螢光表現,另一個拉曼光譜圖則是常見的矽晶片在532 nm雷射下的表現。此設計也可以客製成單一光源同時量測拉曼與螢光訊號。



  • 兩種雷射能量控制方式


內建雷射主要採德國RGB Lasersystems公司品牌,可由軟體以每1 mW/Step直接調整雷射能量輸出;或是由連續式衰減片(O.D 2.0~0.04) 藉由軟體控制直接做更精準的雷射強度衰減。

             軟體選擇衰減方式


              軟體調整雷射能量輸出



  • 偏極化功能(選配)   


對於結晶性高或薄膜的樣品,當需要量測偏振拉曼差異時,可由軟體控制偏振片之角度;或者軟體自動尋找偏振最佳訊號之雷射或訊號角度可歸零設定,以利研究者觀察晶格排列狀況。

              訊號偏振                                                  雷射光源偏振



  • 量測與觀測自動切換模式


佐信公司設計之顯微拉曼系統採用5百萬像素CCD搭配3瓦LED燈源做為樣品影像觀測模組,在觀測樣品位置時,雷射能量自動衰減至低於0.01%,以平衡雷射與觀測白光亮度之平衡,如此可以清楚地觀測樣品表面進而精準獲得雷射位置及明確的表面對焦;當需要切換量測拉曼或觀測樣品表面影像時可使用Scan/View於軟體自動切換.無需手動切換以避免手動切換因震動而造成樣品位移。